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1.電腦查片儀焦度計/查片計 型號：DPACL-300

電腦查片儀焦度計新型紫外線測量能，為眼鏡佩戴者和驗光師提供綜合數據

*   ; 采用符合IS7944規格(ge)的綠色測量光譜(pu)，無需ABBE補償(chang)

*    新(xin)型白色墨水(shui)，在具(ju)有防污(wu)和防霧鍍膜的(de)鏡片上(shang)，也能行清晰標記

*    設計新穎的(de)鏡(jing)片支架(jia)，防止彎度鏡(jing)片的(de)邊緣鏡(jing)片支架(jia)產(chan)生不(bu)要的(de)磕碰

2.數字式(shi)自(zi)動(dong)旋光(guang)儀/自(zi)動(dong)旋光(guang)儀  型號:DP-WZZ-3

特點(dian)：采用(yong)光電檢測和微機控制術，128X64位元液(ye)晶顯示，可測試比旋度、旋光度、糖(tang)度、可自動復測并計(ji)算(suan)均值和均方根，配有RS232接口(kou)，可向PC機傳(chuan)送數(shu)據。

術(shu)參數： 
   
測量范(fan)圍：-45°~ +45°，-120°Z ~ +120°Z 
小讀數值：0.001° 
準確(que)度：±（0.01°+測量值×0.05%），±（0.03°Z+測(ce)量(liang)值(zhi)×0.05%）
重復(fu)性：≤0.003°，≤0.03°Z 
可測樣(yang)品低透過率：10%

1、光源/LED發光二(er)管(guan)+干(gan)涉濾光片  波長(chang)589.44nm，壽命大于20000小(xiao)時；
測量(liang)模(mo)式:旋光(guang)度,比旋度,濃(nong)度,糖度  
2、采用數(shu)字電路及(ji)微機控制(zhi)術，大(da)屏幕背光液晶顯示，數(shu)據(ju)清晰直觀。
3、可(ke)測(ce)試旋光(guang)度(du)、比旋度(du)、濃度(du)和(he)糖度(du)，自(zi)動復測(ce)（1～6測(ce)可選），并自動計(ji)算平均值和(he)均方根。配有(you)RS232接口，可向PC機傳送數據(ju)。
4、測量(liang)范(fan)圍(wei)：-45°～ +45°；-120°Z～+120°Z（糖度）。小讀數值(zhi): 0.001°；0.001°Z
5、準確度:±（0.01°+測量值×0.05%）；準確度:±（0.03°Z+測量值×0.05%）
6、重復(fu)性:≤0.003°；重復性:≤0.009°Z
7、可測樣品(pin)低透過率:10%
儀器等級:0.05級(ji)   重量(liang):25kg 
儀器尺寸:600mm*330mm*270mm

3.壓電(dian)加(jia)速度傳感器(qi)/壓電(dian)式(shi)壓力(li)傳感器(qi)  型號:DP/8602

4.手動涂敷(fu)器(qi)/薄層制板器(qi)/薄層鋪板器(qi)? 型號：DP-III

薄(bo)層(ceng)手動涂敷器/手動涂敷器/薄(bo)層制板器/薄(bo)層鋪(pu)板器? , 共有三種型號?:

DP-I 型為涂敷(fu) 10cm 寬薄(bo)層板，配(pei)有(you)個(ge)小型 10cm

寬涂(tu)敷框，制備5x10,10x10,20×10cm薄層板

DP-II 型為涂(tu)敷 20cm 寬薄層板，配(pei)有(you)個大型 20cm

寬涂敷框，制備板(ban)規(gui)格為(wei) 5 × 20 、10 × 20

20 ×20cm 薄層板(ban)。

DP-III 涂敷器 綜合(he)了 I 型和 II 型的優點(dian)和結構方式(shi),

配有大小(xiao)兩種涂敷框，在個(ge)涂板座上

可成(cheng)上述(shu)各種規格薄層板的制備作 薄層板(ban)均能涂敷

材質：鋁合金(jin)噴塑(su)，不生銹，經久耐用。。涂敷框可調層厚度0.02-2mm。

5.靜(jing)電(dian)(dian)場(chang)描繪實驗儀(yi)(yi)/靜(jing)電(dian)(dian)場(chang)描繪試驗儀(yi)(yi)/導(dao)電(dian)(dian)微晶靜(jing)電(dian)(dian)場(chang)描繪儀(yi)(yi)型號:DP/GVZ-3

靜電(dian)場描繪實(shi)驗(yan)儀/靜電場(chang)(chang)描繪試驗儀(yi)/導電微晶靜電場(chang)(chang)描繪儀(yi)主要術(shu)參數(shu)：

1.DP/GVZ-3型為(wei)雙層，同步探針，內置四種電板（同心圓、平行導(dao)線、聚焦、劈尖形(xing)或飛機機翼電場）。
2.規格為(wei)410mm*240mm,100mm,K4-2導線。
3.微晶(jing)導電層(ceng)的(de)均(jun)勻性，實驗值誤差為小于2%。
4.電(dian)源輸(shu)出范(fan)圍(wei)（直流(liu)）為7.00v—13.00V，分辨(bian)率為0.01V。
5.采用多圈電(dian)位(wei)器調節電(dian)壓，調節細度可(ke)達0.01V。

四種(zhong)電（配(pei)數(shu)碼(ma)管電源(yuan)3位半）
（同心圓R為(wei)7cm，r為(wei)1cm, 其他(ta)電距離均為(wei)10cm）
1．?靜電(dian)(dian)場(chang)描(miao)(miao)繪實驗儀(yi)/靜電(dian)(dian)場(chang)描(miao)(miao)繪試驗儀(yi)/導(dao)電(dian)(dian)微晶靜電(dian)(dian)場(chang)描(miao)(miao)繪儀(yi)儀(yi)器(qi)簡介
本(ben)儀器采用各(ge)向均勻導(dao)電的(de)微(wei)晶導(dao)電板,在(zai)(zai)其上面安置些不同(tong)的金屬電(dian)(dian)。當(dang)有直流(liu)電(dian)(dian)流(liu)經兩(liang)個(ge)電(dian)(dian)在(zai)(zai)導(dao)(dao)電(dian)(dian)板上通過時，由于(yu)微晶(jing)導(dao)(dao)電(dian)(dian)板相對于(yu)金屬導(dao)(dao)體電(dian)(dian)導(dao)(dao)率(lv)低得(de)多(duo)，故(gu)在(zai)(zai)兩(liang)個(ge)電(dian)(dian)間沿電(dian)(dian)流(liu)線會存在(zai)(zai)不同(tong)的電(dian)(dian)勢(shi)，這種不同(tong)的電(dian)(dian)勢(shi)可用數字電(dian)(dian)壓(ya)表直接測出來。分(fen)析(xi)各測量點電(dian)(dian)勢(shi)的變(bian)化規律(lv)，就可間接地(di)得(de)知相似的靜電(dian)(dian)場(chang)中電(dian)(dian)勢(shi)分(fen)布(bu)規律(lv)。
2．使用方(fang)法(fa)
（1）接(jie)線：
靜電場專用(yong)穩壓電源輸出+（紅(hong)）接(jie)線(xian)(xian)柱用(yong)紅(hong)色電線(xian)(xian)連(lian)(lian)接(jie)描(miao)繪架(jia)（紅(hong)）、-（黑）接(jie)線(xian)(xian)柱用(yong)黑色電線(xian)(xian)連(lian)(lian)接(jie)描(miao)繪架(jia)（黑）接(jie)線(xian)(xian)柱。專用(yong)穩壓電源(yuan)探(tan)針(zhen)輸入+（紅(hong)色）接(jie)線(xian)(xian)柱用(yong)紅(hong)色電線(xian)(xian)連(lian)(lian)接(jie)探(tan)針(zhen)架(jia)連(lian)(lian)接(jie)線(xian)(xian)柱。將探(tan)針(zhen)架(jia)好，并使探(tan)針(zhen)下(xia)探(tan)頭置于(yu)導電微晶電上，啟動開(kai)關，校正，后測量。
（2）測量(liang)：
開啟測量開關，如數字顯(xian)字為0 V，則移動(dong)探(tan)針(zhen)架(jia)至另電上，數(shu)(shu)字顯10 V，般常用10 V，便(bian)于運(yun)算。然(ran)后縱橫移動(dong)探(tan)針(zhen)架(jia)，則電源(yuan)電壓表頭顯示讀數(shu)(shu)隨著運(yun)動(dong)而變化。如要測(ce)0 V～10 V間(jian)的何(he)條等(deng)勢(位(wei))線，般可(ke)選0 V～10 V間(jian)某(mou)電壓數(shu)(shu)據相同的8～10個點(dian)，再將(jiang)這(zhe)些點(dian)連成光滑的曲線即(ji)可(ke)得(de)到(dao)此等(deng)勢(位(wei))線。
（3）記錄(lu)：
實驗(yan)報(bao)告都需(xu)要(yao)記(ji)錄(lu)，以備(bei)學生計(ji)算或驗(yan)證，對模擬法作深刻研究(jiu)，則需(xu)在描繪(hui)架上(shang)鋪平白(bai)紙，用橡膠磁條吸(xi)住(zhu)，當(dang)表頭(tou)顯示讀數認(ren)為需(xu)要(yao)記(ji)錄(lu)時，輕輕按下，即能清(qing)晰記(ji)下小點，般所需(xu)記(ji)錄(lu)電壓請參閱講義或由課(ke)教師定奪(duo)，為實驗(yan)清(qing)晰快(kuai)捷，每等(deng)位線8～10點，然后連接即可。

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